Miernik XRF typ PI-MKX01

Miernik XRF typ PI-MKX 01 to klasyczny spektrometr laboratoryjny, pracujący na zasadzie spektrometrii rentgenowskiej EDXRF. Aparat wyposażony jest w detektor SDD, posiadający rozdzielczość od 125 do 140 eV, oraz lampę pracującą w zakresie do 50 keV. Wygodna, wysuwana automatycznie, komora próbek z rotacją naczynka pozwala na precyzyjne pomiary.


Wyposażenie standardowe

PI-MKX01

Spektrometr promieniowania X służy do identyfikacji pierwiastków w danej substancji i określenia ich stężenia. Pierwiastki są wykrywane na podstawie charakterystycznej długości fali emisji wtórnego promieniowania rentgenowskiego. Analiza ilościowa (ocena stężenia danego pierwiastka) jest możliwa poprzez pomiar intensywności danej energii (odpowiadającej danemu   pierwiastkowi). Stężenie danego pierwiastka określane jest za pomocą pomiaru intensywności linii jego charakterystyki.

Metoda XRF obecnie jest często wykorzystywaną techniką analityczną w badaniach niedestrukcyjnych.  Metoda XRF ma szczególne znaczenie w przypadku analizy warstwy przypowierzchniowej. Jest ona szeroko wykorzystywana w analizie składu a w szczególności w badaniach wyrobów metalowych, ceramicznych, szklanych oraz materiałów budowlanych.

Miernik   XRF  typ PI-MKX01  jest  klasycznym spektrometrem laboratoryjnym pracującym na zasadzie spektrometrii rentgenowskiej EDXRF. Wyposażony jest w detektor SDD posiadający rozdzielczość od 125 do 140 eV oraz lampę pracującą w zakresie  do 50 keV. Wygodna, wysuwana automatycznie komora próbek z rotacją naczynka pozwala na precyzyjne pomiary. Aparat wyposażony jest w polskojęzyczne oprogramowanie pozwalające w prosty sposób wykonywać  analizy ilościowe  i jakościowe. O ofercie spektrometrów rentgenowskich posiadamy  aparat wyposażony w sampler a także rozwiązania do pomiarów on-line.

Producent:
POLON IZOT Sp. z o. o.

 
Copyrights © Donserv.pl 2014