Spektrometry fluorescencji rentgenowskiej (XRF)

Spektrometria promieniowania X służy do identyfikacji pierwiastków w danej substancji oraz określenia ich stężenia. Wykrywanie pierwiastków odbywa się na podstawie pomiaru charakterystycznej długości fali emisji wtórnego promieniowania RTG. Analiza ilościowa (stężenie danego pierwiastka) jest możliwa przez pomiar intensywności energii odpowiadającej danemu pierwiastkowi. Stężenie badanego pierwiastka określane jest za pomocą pomiaru intensywności linii jego charakterystyki. Obecnie metoda XRF jest szeroko stosowaną techniką analityczną wykorzystywaną w badaniach na całym świecie. Metoda XRF ma szczególne znaczenie w przypadku analizy warstw przypowierzchniowych oraz jest szeroko wykorzystywana w analizie składu, w szczególności w badaniach wyrobów ceramicznych, szklanych, metalowych oraz materiałów budowlanych.

Oferujemy trzy rodzaje spektrometrów produkowanych przez polskiego producent POLON-IZOT. Są to spektrometry laboratoryjne, spektrometry ED XRF do określania ilości pierwiastków w olejach, smarach i paliwach oraz spektrometry przemysłowe do badania zawartości pierwiastków on-line.
Zapraszamy na stronę producenta poświęconą spektrometrom: polonizot.pl/spektrometry

SELECT t1.*,t2.* FROM `documents` AS t1,`text` AS t2 WHERE t1.status='1' AND `rel`='482' AND t1.id=t2.iid AND t1.id=t2.iid ORDER BY `title` ASC LIMIT 0,50
DONSERV | ul. Spisaka 31, 02-495 Warszawa, woj. mazowieckie | serwis@donserv.pl | 22 863-19-30 | Copyrights © Donserv.pl 2014